存儲芯片測試方案-杭州加速科技有限公司

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行業趨勢

新興領域需求廣泛

消費電子、物聯網及汽車電子需求增長

品質需求日益嚴苛

需求維持發展

競爭激烈

需要快速完成驗證并量產，及時推向市場

質優價廉

低成本高效率測試方案

方案概述

存儲芯片測試方案概述

加速科技推出的250Mbps高性能數字混合信號測試系統，對于市場上EEPROM、中小容量NOR Flash，及嵌入式存儲器有著良好的支持。合適的DIO通道與電源、高壓源配比及模塊化的資源，使得多site擴展簡單易行。高容量向量深度，可滿足中小容量存儲芯片的存儲功能測試。系統、各模塊間高速通信帶寬，算法硬件調度，可有效提升測試效率。

方案介紹

Per-pin PMU供電模式

最大化并測

動態負載模擬I2C上拉電阻

減少外圍元件

大容量PatternMemory

滿足中小容量flash全地址讀寫

125MHz/250Mbps DIO功能向量

滿足高速讀寫需求

核心優勢

CORE ADVANTAGES

邏輯、軟件特別優化

并測效率提升30%以上

定制化repair功能

應對不同客戶需求

模塊化設計

軟硬件無縫轉化多工位量產測試

DIO雙指令集

高效trim修調測試

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