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        方案概述

        存儲芯片測試方案概述

        加速科技推出的250Mbps高性能數字混合信號測試系統,對于市場上EEPROM、中小容量NOR Flash,及嵌入式存儲器有著良好的支持。合適的DIO通道與電源、高壓源配比及模塊化的資源,使得多site擴展簡單易行。高容量向量深度,可滿足中小容量存儲芯片的存儲功能測試。系統、各模塊間高速通信帶寬,算法硬件調度,可有效提升測試效率。

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